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瑞典林雪平大学:Mn掺杂β-Ga₂O₃的红色光致发光:Mn³⁺离子的光学特征

由瑞典林雪平大学的研究团队在学术期刊 Applied Physics Letters 发布了一篇名为 Red photoluminescence from Mn-doped β-Ga2O3: Optical signature of an Mn3+ ion?(Mn 掺杂 β-Ga2O3 的红色光致发光:Mn3+ 离子的光学特征)的文章。

一、 背景

β-氧化镓(β-Ga2O3)是一种超宽禁带半导体,在功率电子和紫外探测器领域具有重要应用。为了制造高频器件,需要通过掺杂来制备半绝缘(SI)的 β-Ga2O3 衬底。锰(Mn)是一种常见的掺杂剂,它作为深受主,通过补偿材料中固有的浅施主(如 Si)来实现高电阻率。锰掺杂的 β-Ga2O3 在光照下会发出一种特征性的红色光致发光(PL)。长期以来,这种红色发光被认为是 Mn2+ 离子的内部 d-d 跃迁产生的。然而,这一归属存在一个根本性的矛盾:Mn 在 Ga2O3 中替代 Ga3+ 位,从电荷中性角度考虑,它主要应以 Mn3+ 的形式存在,而非 Mn2+。 这种红色 PL 的确切物理起源因此一直存在争议。

二、 主要内容

在锰掺杂 β-Ga2O3 中常见的约 710 nm 处存在一条尖锐的荧光谱线,此前基于其特性与 Cr3+ 已知 2E → 4A2 跃迁的相似性,该谱线被归因于具有 d3 电子构型的 Mn4+ 离子的中心内跃迁。本研究通过光谱数据对该解释提出质疑,指出 710 nm 发射更可能源自高自旋 d4 构型的 Mn3+。具体而言,温度依赖性磁致 PL 数据表明,该发射源于相关中心非简并 S=0 激发态与 S=2 基态之间的内部跃迁,这与 Mn4+ 的 S=3/2 自旋状态不相容。时间分辨光致发光测量揭示出长发光寿命(约 800 μs),这是自旋禁戒的 d-d 内部跃迁特征。这些观测结果结合该中心测定的自旋哈密顿量参数,均支持 Mn3+ 从低能级自旋单重态激发态跃迁至高自旋 5E 基态的机制——该跃迁由局部晶场引发轨道分裂所致。另一条约 694 nm 的发射谱线强度较弱且空间分布不均,其磁学与热学行为几乎完全一致,表明该谱线源于受邻近缺陷扰动的 Mn3+ 离子。因此,本研究为 β-Ga2O3 中此前未被记录的 Mn3+ 离子提供了光谱学证据。

三、 总结

研究团队证明了锰掺杂 β-Ga2O3 会产生两条尖锐的发射谱线,波长分别为约 710 nm 和约 694 nm。通过结合磁光光致发光光谱与时间分辨光致发光测量,确定了主导 710 nm 发光的中心电子结构,并揭示其源于 TM 离子(可能具有 3d⁴ 电子构型)的 S=0 激发态与 S=2 基态之间自旋禁止的内部跃迁。可能的候选中心是位于畸变八面体 Ga(II) 位点上的 Mn3+ 离子,其配位数为六重。观测到基态存在约 0.15meV 的显著零场分裂,反映出低对称性晶场效应。该中心揭示的自旋特性,结合 0.12 的较高德拜-沃勒因子,使 Mn3+ 离子成为潜在自旋-光子发射体的理想候选者。较弱的 694 nm 谱线暂归因于同源中心,但因邻近缺陷或表面效应而产生局部扰动。本研究填补了 β-Ga2O3 中过渡金属掺杂剂研究的空白,首次提供了该材料中 Mn3+ 离子的光谱特征。所得知识对当前利用过渡金属色心和自旋中心开展光电子学、光自旋电子学及量子信息技术应用的研究具有重要价值。

图1. (a) Mn 掺杂 β-Ga2O3 晶体在 7K 下测得的代表性光致发光光谱。插图为 690–700 nm 波段内 PL 发射的局部放大图。(b) 710 nm 谱线积分强度的阿伦尼乌斯图。插图展示了图中标注测量温度下 710 nm 发射的光衰减曲线。

图2. 三种测量几何结构下高分辨率光致发光光谱随施加磁场变化的测量结果:k || B || a(a),k || B || b(b),以及 || B || c*(c)。(d) 在B=5 T条件下,k || B || b 测量获得的实验 PL 光谱(黑线),及其分解为五个 PL 分量(蓝虚线)与总和(红线)。(e)-(g) 取自 (a)-(c) 图的塞曼分量最大位置(符号)。实线表示采用自旋哈密顿量及文中列出的参数计算的塞曼分量能量。β-Ga2O3 晶体取向采用常规标记法。(h) 8 K(黑线)与 40 K(红线)下测得的 PL 光谱。测量在 5 T 磁场下进行,k || B || a。

图3. 示意图展示了位于具有 Oh 和 C4v 对称性的八面体位点的 TM 离子电子结构,其电子配置为 3d4。图中仅显示与 710 nm 发射相关的能级。为简化起见,省略了基态的精细结构分裂。图右侧描绘了 710 nm 中心 S=0 激发态与 S=5 基态的塞曼分裂。红色垂直箭头标示了监测到的光学跃迁。

图4. (a) 694 nm 谱线积分强度的阿伦尼乌斯图。插图显示 7 K 下 694 nm 谱线的时间衰减曲线。(b) 磁致发光光谱显示 694 nm 谱线随外加磁场 (B) 变化的塞曼分裂现象。虚线表示采用自旋哈密顿量计算的塞曼分量能量,其参数与 710nm 发射谱相同。

DOI:

doi.org/10.1063/5.0304085

本文转发自《亚洲氧化镓联盟》订阅号